
高壓加速壽命測(cè)試機(jī) hast加速老化試驗(yàn)箱
簡(jiǎn)要描述:高壓加速壽命測(cè)試機(jī) hast加速老化試驗(yàn)箱基于高溫、高濕、高壓的嚴(yán)苛環(huán)境模擬技術(shù),能夠以遠(yuǎn)超自然老化的速度,加速測(cè)試各類材料、電子元器件、半導(dǎo)體封裝、印刷電路板等產(chǎn)品的老化過程。通過模擬嚴(yán)苛條件下的老化場(chǎng)景,可在短時(shí)間內(nèi)獲取產(chǎn)品在長(zhǎng)期使用過程中的性能變化數(shù)據(jù),幫助企業(yè)提前發(fā)現(xiàn)潛在質(zhì)量隱患,大幅縮短產(chǎn)品研發(fā)和質(zhì)量驗(yàn)證周期。
產(chǎn)品型號(hào):
所屬分類:HAST高壓加速老化試驗(yàn)箱
更新時(shí)間:2025-04-28
廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
高壓加速壽命測(cè)試機(jī) hast加速老化試驗(yàn)箱
一、產(chǎn)品概述與核心功能
技術(shù)原理
HAST通過非飽和蒸汽(濕度70%~100%RH可調(diào))結(jié)合高溫(100℃~155℃)和高壓(0.2~3.5 kg/cm2)環(huán)境,加速水分滲透、氧化、腐蝕等失效過程,模擬產(chǎn)品長(zhǎng)期使用后的老化狀態(tài)。核心功能
加速失效分析:將自然老化數(shù)千小時(shí)的測(cè)試縮短至數(shù)十小時(shí),快速暴露材料分層、焊點(diǎn)開裂、密封失效等問題。
多參數(shù)動(dòng)態(tài)控制:支持溫度、濕度、壓力獨(dú)立調(diào)節(jié),可模擬循環(huán)變化(如雙85、雙95測(cè)試),適配復(fù)雜工況分析。
失效模式分類:
早期失效:工藝缺陷、材料不良(如封裝氣密性不足);
隨機(jī)失效:外部應(yīng)力突變或誤用(如電路短路);
退化失效:長(zhǎng)期氧化、疲勞老化(如金屬腐蝕、高分子材料降解)。
高壓加速壽命測(cè)試機(jī) hast加速老化試驗(yàn)箱
典型應(yīng)用場(chǎng)景與案例
半導(dǎo)體行業(yè)
失效分析:檢測(cè)芯片封裝抗?jié)駳鉂B透能力,預(yù)防“爆米花效應(yīng)"(封裝分層);
案例:某IC企業(yè)通過132℃/2.0 kg/cm2測(cè)試,將封裝可靠性驗(yàn)證周期縮短80%。
汽車電子
測(cè)試對(duì)象:車規(guī)級(jí)PCB板、連接器、傳感器;
案例:模擬雙95循環(huán)測(cè)試(85℃/85%RH),提前發(fā)現(xiàn)焊點(diǎn)開裂問題,優(yōu)化焊接工藝。
新能源領(lǐng)域
光伏組件:評(píng)估EVA膠膜耐濕熱老化性能,延長(zhǎng)組件壽命;
電池材料:測(cè)試鋰電隔膜在高壓環(huán)境下的抗腐蝕性。
選型指南與配置建議
參數(shù)匹配
溫度/壓力上限:優(yōu)先選擇支持150℃+/3.5 kg/cm2,覆蓋更嚴(yán)苛測(cè)試需求;
內(nèi)箱尺寸:根據(jù)樣品體積選擇(如Φ300×450mm適配小型器件,Φ650×600mm適合大型組件)。
功能擴(kuò)展
動(dòng)態(tài)循環(huán)測(cè)試:需設(shè)備支持溫濕度獨(dú)立編程;
安全認(rèn)證:確保符合IEC60068-2-66、JESD22-A110等標(biāo)準(zhǔn)。
服務(wù)
售后服務(wù):優(yōu)先選擇提供技術(shù)培訓(xùn)、定期校準(zhǔn)的品牌,降低運(yùn)維成本。